|
Ишь, "подсказать", считайте сами:
Отказы MК обсчитываются так же, как обычных ИС.
Интенсивность отказов ИС без учета влияния внешних условий
можно оценить выражением:
Lk=PIq*C*exp[A*(Tr^(-1)-Tj^(-1))]/10^6,
где
Tr-нормальная температура;
Tj-температура p-n перехода компонента;
C-коэффициент сложность ИС;
А=Еа/K, где
Еа-эквивалентная энергия активации для основных процессов
дефектообразования в ИС;
K-постоянная Больцмана;
Для логических схем:
С=0,0037+(0,00006)*Nb+(0,00000925)*G,
где
Nb-число контактных выводов корпуса;
G-число p-n переходов, затворов;
Влияние внешних условий системы технологических испытаний
оценивается формулой:
Lk'=B*PIr*PIe*N/10^6,
где
B-постоянная;
PIr-коэффициент, учитывающий систему проектирования и испытаний ИС;
PIe-коэффициент, учитывающий влияние внешних условий;
N-число активных элементов ИС.
Полная интенсивность отказов ИС определяется выражением:
Lис=Lk+Lk'
E-mail: info@telesys.ru