Расчёт надёжности схемы
(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

миниатюрный аудио-видеорекордер mAVR

Отправлено Bob 06 февраля 2003 г. 22:20

Уточняю сразу это для диплома.
При расчете надежности принимается, что интенсивность отказов постоянная по времени величина.

Если предположить, что отказы различных элементов и их монтажа взаимно независимы, то любой отказ носит катастрофический характер, полностью нарушая работу устройства. Таким образом, интенсивность отказов элементов, входящих в состав устройства и их монтажа, равна сумме интенсивностей отказов элементов и их монтажа, т.е.
lamda = сумма_от_1_до_NN(lamda_i)*n_i + lamda_n*N_n
где [lamda_i] - интенсивность отказов элементов типа i, (i=1,..., NN);
[lamda_n] - интенсивность отказа соединения пайкой одной ножки ИС;
[n_i] - количество элементов типа i в устройстве;
[N_n] - количество соединений типа пайка в схеме;
[NN] - количество различных типов микросхем.

Интенсивность отказов - основная характеристика надежности, на основе которой определяется ряд других характеристик. Величина равна среднему промежутку времени между двумя отказами и называется наработкой на отказ.

Вероятность исправной работы в течение произвольного интервала времени t, равна p(t)=e^-lamda(t)

Вопрос вот в чем - где найти интенсивность отказа например DS1307, AT24c256, AT89s8252 ?
есть величина 10^-7 для элементов и для пайки единичного контакта, но откуда это взалось непонятно, помогите.

Составить ответ  |||  Конференция  |||  Архив

Ответы



Перейти к списку ответов  |||  Конференция  |||  Архив  |||  Главная страница  |||  Содержание  |||  Без кадра

E-mail: info@telesys.ru