Вполне пойдет. Только в каждый конкретный девайс придется вводить калибровочную константу, показывающую насколько различаются два этих узла. («Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

[an error occurred while processing this directive] Вполне пойдет. Только в каждый конкретный девайс придется вводить калибровочную константу, показывающую насколько различаются два этих узла.

(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

Отправлено SM 28 октября 2002 г. 15:40
В ответ на: А если добавить ещё один такой же кондюк с доп резистором 100 Ом и "калибровочным" резистором в середине шкалы измерений ? там в 628 два компаратора с общей опорой - жалко оба использоватьчто-ли ? отправлено Sergey Smirnow 28 октября 2002 г. 15:36

Составить ответ ||| Конференция ||| Архив

Ответы

А вот и не надо - хе хе, девайс то один будет, мой собственный ;) — Sergey Smirnow (28.10.2002 15:58, 115 байт)
- Да не надо ничего подбирать, главное чтобы детали были применены одного типа (одинаковый ТКС и ТКЕ), а транзюки желательно сборкой на одном кристалле. Остальное - решается программно - разный коэффициент после вычисления отношения образцового к измеряемому. — SM (28.10.2002 16:15, пустое)

Перейти к списку ответов ||| Конференция ||| Архив ||| Главная страница ||| Содержание ||| Без кадра

E-mail: info@telesys.ru