Ну и получить градацию деструктивных изменений в MCU в зависимости от параметров ЭМП типа такой {пример}...Вот тогда бы действительно была польза
(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

миниатюрный аудио-видеорекордер mAVR

Отправлено ТуамОсес 27 ноября 2006 г. 17:44
В ответ на: Для SADAT. Раз уж ты занялся тестированием MCU на помехоустойчивость, то не мешало бы ещё установить, что конкретно происходит с MCU при воздействии твоей "адской машинки"...Я имею ввиду написание спец.программ для установления того , что творится в проце при воздействии помехи..Как идея? и почитай ещё ссылку отправлено ТуамОсес 27 ноября 2006 г. 17:32

0....
1. Искажается случайным образом счётчик команд
2. Рушатся данные в ОЗУ
3. Случайным образом изменяется содержимое регистров ввода\вывода
3. "Слетает" EEPROM
4. Слетает FLASH
5....
...........

Где при перемещении сверху вниз идёт увеличение помеховых факторов

Составить ответ  |||  Конференция  |||  Архив

Ответы


Отправка ответа
Имя (обязательно): 
Пароль: 
E-mail: 

Тема (обязательно):
Сообщение:

Ссылка на URL: 
URL изображения: 
если вы незарегистрированный на форуме пользователь, то
для успешного добавления сообщения заполните поле, как указано ниже:
введите число 63:


Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Перейти к списку ответов  |||  Конференция  |||  Архив  |||  Главная страница  |||  Содержание