Отправлено leoyv 14 марта 2003 г. 18:22 В ответ на: И я о том-же: сомневаюсь, что в устройстве, работающем на пределе быстродействия компонентов, удастся подключить какие-либо щупы, не ухудшив его работу. Вижу 2 пути: не использовать компоненты на пределе быстродействия и (или) формировать требуемые лог. анализаторы в том же ПЛИСе. отправлено Пытливый 14 марта 2003 г. 15:14

Во-первых щупы (к сожалению) не всегда "ухудшают", а иногда "улучшают" работы устройства, что, на мой взгляд, еще хуже. Во-вторых можно пользоваться щупами с мин. влиянием (основное - малая емкость, и щупы с 3 пФ существуют и я ими пользуюсь по крайней мере на частотах до 133МГц). Ну а встроенные ЛА - помогают в режиме "State Analisys", но ничего не могут сделать в режиме "Timing Analisys", так как нужны дикие частоты стробирования, которые доступны только у лучших ЛА. А вообще это искусство - я имею в виду тестирование быстрых плат и здесь надо использовать ВСЕ доступные средства: ЛА, осцилографы, специальные тестеры и т.д. Тут есть еще проблемы - обо всем этом надо думать задолго до тестирования, в процессе разработки тех. требований к плате и разработки самой платы, как схемы так и ПП, не бояться идти на повышение цены изделия (дополнительные тестовые разъемы, буфера), потому-что иначе все это вылезет боком позже, и это почти гарантировано. При массовом производстве отлаженного изделия все (или часть) этих доп. компонентов можно похерить. Я (замечаете мою скромность) так и делаю - уж очень заколебало отлаживать чего-то не тестируемое, а это встречается сплошь и рядом. Что-то я разогнался писать...

• Очень интересные мысли. А пошаговый режим для цифровых автоматов полезно использовать? — Engineer   (18.03.2003 21:54, пустое)